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老化監控測試系統

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安徽快三计划:EML器件老化測試系統

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北京快三计划群 www.dxgfr.icu

       普賽斯EML器件老化測試系統用于EML器件的老化測試,過程監控,老化系統讀取SOCKET板中器件的熱敏電阻值,獲取器件溫度;讀取電流、電壓、背光電流和EA的功率,實現對32路器件的實時監控測試,提高EML器件的產品質量。

產品特點

1.支持單臺設備攜帶32顆器件老化測試,可多臺設備組網老化更多顆器件

2.模擬應用場景老化:模擬實際EML器件的調制方式,支持EA電壓的AC調制老化;

3.實時監控:測試器件內部的熱敏電阻Rth,實時反映器件內部溫度,可間接反映老化箱溫度

技術指標


項目

要求

備注

通道數

32

 

監控方式

實時監控

 

軟件

PC端,可提供DLL

支持本地和遠程數據庫

Chip

LD驅動電流

0~150mA

0~50mA  精度0.2%±1mA

50~150mA 精度0.3%±1mA

LD電壓?;?/span>

<2.5V

<2.5V可調,精度0.3%±1mA

Mpd反相電壓

0~-5V

精度1%±50mV

Mpd電流監控

0~1uA

1uA~3mA

分辨率1nA,精度0.3%±2nA

精度:精度0.2%±5uA

EA

Vea

-3V~2V

可調,精度1%±50mV,AC模式1k-10kHz

電流?;?/span>

80mA

精度1.2%±1mA

TEC

Rth溫度監控

 

實時測試電阻大小來計算溫度

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